DIC（ Digital Image Correlation/デジタル画像相関法 ）とは、計測対象にスプレーなどで塗布したランダム模様の変化を、カメラで撮影した画像から解析することで、変位・ひずみを計測し可視化する手法です。画像解析による変位・ひずみを解析するので、非接触で面や3D形状のひずみも可視化できます。また、計測したひずみをポスト処理することで応力に変換することも可能です。
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非接触によるひずみ・変位など変形データの洞察ツール
多くのDICシステムは、ひずみや変位などの変化をカラー画像で表示します。また、これらの結果はブラックボックス化されています。
MatchIDは、変形はどのようにして起こったのかを洞察するためのヒントを提供します。ユーザの技術リクエストに応えられるように、 MatchIDのDICプラットフォームは、完全にモジュール化されております。変形の視覚化、性能の最適化、誤差の評価、モデルの検証など、様々なコンポーネントから構成されています。最も多機能な製品の一つで、一段上のステージでのDIC実験を実現します。
ひずみ分布と材料特性からの高精度な応力分布への変換
DICで得られたひずみ分布から、応力－ひずみ関係式などを定義すれば、応力分布に変換できます。ヤング率やポアソン比などのパラメータに適切な値を入力することでより精度の高い応力分布を得られます。加えて、ユーザーが定義したひずみや応力成分などを使用した関数に従って、分布を表示することができます。さらに応力の三軸度など、分析したい値の可視化も可能です。異方性も考慮可能です。
2次変換
従来の4隅のみの線形変換でなく、中点・中心も考慮した変換を実現します。
エッジ補正
DICはカメラの特性上エッジ解析ができません。しかしMatchIDでは内部補正による再現を実現します。
材料試験種類の削減に寄与
VFM（Virtual Fields Method）により、材料のパラメータ同定が行えます。この機能により材料試験種類を減らしても、パラメータの取得が可能となります。よって、これまで取得困難だった特性値も、DIC実験と組み合わせて取得できるようになります。
構造解析CAEとのコリレーション
FEメッシュと測定結果の差分を定量的に表現することができます。そのため、解析結果を定量的に確認できます。
アプリケーション
瞬間的な挙動
ハイスピードカメラ により、大きな変形、加速度、ひずみ速度を正確に捕捉します。
ひずみゲージ置き換え
ひずみゲージに相当する‘EXTOMETER’をDIC用画像の任意の場所に、方向、長さを指定します。これにより変位やひずみの値を取得できます。
モーション計測
ランダム模様ではなく、マーカーシールの座標値を動的に解析することが可能です。
振動
DICは、多くのデータチャネルの時刻歴をジオメトリとして同時に⽣成できます。周波数応答関数 (FRF)解析、FFT解析などが可能です。
熱データとの統合
サーモカメラと同期を取る事により、ひずみと温度の関係を分析することが可能です。
熱による変位、ひずみ、応力の観察
プレス部品のクランプによる変位・ひずみ・応力の変化
面ひずみ
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※MatchIDの開発元はMatchID NV（ベルギー）です。
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